随着欧洲环境立法,如RoHS以及PCB市场力量,正在推动走向无铅焊料的转化。电子产品导入无铅制程后,由于无铅焊料的特性,如熔点高、润湿性差、工艺窗口窄等,焊接过程出现了无铅焊接特有的缺陷及水平,如锡珠、焊点粗糙、漏焊和少锡,以及空洞等。
空洞作为焊接过程中一种有争议的缺陷,在共晶Sn/Pb焊料时就普遍存在,但无铅工艺中焊接温度的提升会进一步加剧空洞的形成。空洞问题并不是BGA独有的,在表面贴装及通孔插装元件的焊点中都可以检查到(图1),只是BGA区域出现空洞的几率一般比较高。PCB设计、焊料选择、焊接工艺(尤其无铅与混装工艺)、回流气氛(空气与氮气)、回流参数等都会对空洞的形成与控制有不同程度的影响。